Durante su presentación, Alonso analizará detalladamente tecnologías emergentes como PERC, TOPCon, HJT e IBC (back contact), destacando sus diferencias técnicas, ventajas y desafíos específicos en términos de rendimiento y durabilidad. También profundizará en los principales problemas de calidad que afectan actualmente a los módulos solares, incluyendo microfisuras, degradaciones inducidas como PID, LID y LeTID, así como el mismatch de células bifaciales.
Además, explicará en detalle métodos avanzados para detectar estos problemas antes de que afecten significativamente el rendimiento del sistema solar, como la electroluminiscencia (EL), fotoluminiscencia (PL), termografía infrarroja y análisis de curvas I-V.
La participación de Alonso en la Solar Panel Week es especialmente relevante para profesionales, instaladores y empresas del sector fotovoltaico que buscan entender cómo garantizar la calidad y fiabilidad de los paneles solares, claves para optimizar la rentabilidad de sus instalaciones fotovoltaicas.
La charla podrá seguirse en directo a partir de las 17:00 hora española a través de las plataformas facilitadas por MPV Solar Reference registrándose en este enlace: https://www.mpvsolarreference.com/solar-panel-week
